Система предназначена для измерения статических и динамических параметров высокомощных МОП и БТИЗ транзисторов; автоматической самодиагностики измерительной системы; автокалибровки измерительной системы.

Система основана на платформе NI PXI, а также усилителя мощности сигнала. Программное обеспечение разработано в графической среде программирования NI LabVIEW и имеет простой в использовании и интуитивно понятный пользовательский интерфейс.

Измеряемые параметры :

БТИЗ транзисторы :

1. Пробивное напряжение коллектор-эмиттер
2. Обратный ток коллектор-эмиттер
3. Ток утечки затвор-эмиттер
4. Напряжение насыщения коллектор-эмиттер
5. Пороговое напряжение затвор-эмиттер
6. Входная, выходная и проходная емкости
7. Заряд затвора, заряд затвор-эмиттер, заряд затвор-коллектор
8. Время задержки, время нарастания, время рассасывания, время спада

МОП транзисторы :

1. Ток утечки затвора
2. Остаточный ток стока
3. Начальный ток стока
4. Пробивное напряжение сток-исток
5. Пороговое напряжение
6. Сопротивление открытого транзистора
7. Крутизна характеристики
8. Входная, выходная и проходная емкости

Технические характеристики :

Details :

• Author : yeatAdmin
• Category : Системы тестирования электронных компонентов
• Date : Апрель 19, 2015