Система предназначена для измерения параметров гироскопов, включая измерения в температурном диапазоне, с целью осуществления контроля качества изделий. Система основана на платформе NI PXI и использует программное обеспечение, разработанное в графической среде программирования NI LabVIEW.

Стенд состоит из по­воротного стола, на котором могут устанавливаться четыре гироскопа и шкаф с контроллером реального времени, модуля­ми сбора и обработки данных и модулями управления гиромоторами.

Измеряемые параметры :

1. Источник питания
2. Ток потребления
3. Время разгона ротора до синхронной скорости
4. Время выбега ротора
5. Резонансная частота вращения ротора
6. Температурный коэффициент резонансной частоты
7. Нестабильность резонансной частоты
8. Крутизна датчиков момента ДМ
9. Температурный коэффициент крутизны ДМ
10. Нестабильность крутизны ДМ
11. Погрешность привязки электрических осей ДМ
12. Нестабильность электрических осей ДМ
13. Постоянная времени гироскопа
14. Крутизна датчиков угла ДУ
15. Гармоники модуляции сигнала ДУ
16. Ускорение вибрации корпуса прибора
17. Угол отклонения ротора до упора
18. Дрейф угловых скоростей
19. Чувствительность прибора к осевой вибрации
20. Температурные коэффициенты составляющих дрейфа
21. Нелинейность температурного коэффициента дрейфа
22. Время готовности
23. Угловая скорость отработки
24. Время непрерывной работы

Технические характеристики :

Details :

• Author : yeatAdmin
• Category : Системы тестирования электромеханических изделий
• Date : Сентябрь 15, 2016