Система предназначена для измерения основных световых, электрических параметров и характеристик источников оптического излучения, различных вариантов дисплеев и световых табло, светодиодов, а также приборов, использующих источники оптического излучения. Высокоточные автоматизированные измерения, анализ результатов, контроль и мониторинг температурных параметров осуществляются с помощью гибкого программного и аппаратурного обеспечения, которые позволяют подключать к системе необходимые внешние оптические измерители (цифровые люксметры, спектрометры и т.д.) и работать с различными диаметрами сфер.

Система основана на платформе NI PXI. Программное обеспечение разработано в графической среде программирования NI LabVIEW.

Типы измерений :

1. Температурный: зависимость электрических и оптических параметров от температуры.
2. Оптический: спектр цвета, яркость, эффективность, излучаемая интенсивность.
3. Электрический: IV характеристики (прямой, обратный), коэффициент пульсации источников излучения.

Технические характеристики :

Details :

• Author : yeatAdmin
• Category : Системы тестирования электронных компонентов
• Date : Сентябрь 15, 2016