Система тестирования SRAM предназначена для функционального и параметрического контроля микросхем статической памяти с произвольным доступом. Система основана на платформе NI PXI и использует модули генерации/анализа цифровых сигналов NI PXIe-6556 с возможностью выполнения параметрических измерений для каждого канала.

Тестер имеет 4 конфигурации с поддержкой до 2-х, 4-х, 6-и и 8-и модулей NI 6556. Конфигурация с 8-ю модулями предоставляет до 190 цифровых каналов.Система предусмотрена для функционального тестирования микросхем, а также для измерения электрических параметров, таких как ток потребления, логические уровни, и т.д.

Система включает релейный блок, для мультиплексирования цифровых каналов (подключения к питанию, или к цифровым каналам модуля NI 6556) и коннекторную плату с оснасткой, с возможностью работы в термокамере с диапазоном температур от -55С до +80С. Программное обеспечение дает возможность конфигурирования аппаратного устройства и всех параметров управления и тестирования микросхем.

Функциональные особенности :

• Поддерживает до 2000моделей микросхем статической памяти.
• Поддерживает более 20 типовкорпусов микросхем.
• Обеспечивает до 192цифровых каналов со скоростью передачи данных до 200 Мбит/с.
• Включает наиболеепопулярные тесты, такие как Checkerboard, Mats, March C-.
• Возможность создания пользовательских тестов.
• Параметрические измерениядля каждого из каналов.
• Создание временных диаграммс разрешением до 1 нсек.
• Создание отчетов.

Details :

• Author : yeatAdmin
• Category : Системы тестирования электронных компонентов
• Date : Сентябрь 15, 2016