Система представляет собой специальную оснастку и программное обеспечение для тестирования статических и динамических параметров высокоскоростного конвейерного АЦП с частотой оцифровки до 100 МГц и полосой до 300 МГц.  Система позволяет измерять следующие статические и динамические параметры АЦП:

• Интегральная нелинейность
• Дифференциальная нелинейность
• Отношение сигнал/шум
• Динамический диапазон без паразитных составляющих
• Напряжение высокого уровня
• Напряжение низкого уровня
• Погрешность смещения

Непосредственно на плате оснастки установлены  высокостабильный  генератор с частотой 1 ГГц и программируемый делитель с целью обеспечения высокой стабильности и малого джиттера  сигнала тактирования. Источник сигнала тактирования программно можно выбирать или из внешнего модуля NI PXIe-6674T или из встроенного генератора.  Оснастка микросхемы установлена в специальный корпус, позволяющий проводить тестирование микросхемы при разных климатических условиях: от -60о до +80о С.

Details :

• Author : yeatAdmin
• Category : Системы тестирования электронных компонентов
• Date : Сентябрь 15, 2016